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平面爆炸波在非线性磁滞介质中传播的级数解

open access: yes, 1987
本文利用座标摄动方法研究平面爆炸波在非线性磁滞介质中的传播问题。所得到的是以级数形式表达的精确解,它阐明了应力脉冲在该类介质中的衰减规律。计算说明,这种方法比差分方法和特征线性方法简单有效 ...
赵国英, 段祝平
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湿热环境异常发热复合绝缘子电热耦合仿真分析

open access: yesGaoya dianqi, 2022
复合绝缘子运行中异常发热现象频发,其中老化与表面污秽是导致发热的主要原因。文中采用有限元多物理场仿真,结合实测获得的材料参数,分别建立了正常运行、湿热老化、局部涂污及整体涂污等4种典型工况下的复合绝缘子仿真模型,根据湿热老化以及表面污秽的不同发热特征,分别建立静电、电流场两种模型。通过电场计算分析发现:湿热老化后复合绝缘子沿面电场增大、界面电场降低;局部涂污复合绝缘子在涂污处电场稍微下降;整体涂污复合绝缘子由于沿面电流增大造成电场畸变严重。通过以电介质损耗为接口的耦合热场以及电流场 ...
刘宇   +5 more
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一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法

open access: yes, 2009
提出一种新颖的方法用于测量电吸收调制器(electroabsorption modulator,EAM)各种因素造成的插入损耗.此方法仅需要测量波长相关的光电流(Iph-λ)和光透过功率(P-λ)的数据,通过最小二乘法拟合出结果.理论分析表明此方法较精确 ...
王圩   +5 more
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CaCu3Ti4O12陶瓷巨介电常数来源的研究

open access: yesDianci bileiqi, 2017
采用固相反应法在10551095℃制备了CaCu3Ti4O12电介质陶瓷材料(以下简称CCTO),并研究了不同烧结温度下CCTO陶瓷介电性能的变化,优化出了最佳制备CCTO陶瓷的工艺参数。利用XRD技术研究了不同烧结温度下CCTO陶瓷立方钙钛矿结构的晶格常数的演变过程,通过观察SEM证明了CCTO陶瓷的巨介电常数和晶粒尺寸大小成正比例,最后结合阻抗谱分析技术证明了CCTO陶瓷的低频介电损耗主要由晶界电阻决定,而晶粒电阻的大小直接影响着CCTO陶瓷的巨介电常数 ...
张家祥, 索娜, 罗发
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典型缺陷油浸纸套管绝缘劣化特性研究

open access: yesGaoya dianqi, 2022
油浸纸电容式套管是目前电力系统中应用最为广泛的套管,发生的故障也相对较多。为研究油浸纸套管缺陷发展过程及绝缘劣化规律,采用多只72.5 kV油浸纸套管分别模拟进水受潮、极板边缘尖端、极板偏差及油中气泡等典型缺陷,在60℃油温下同时对缺陷套管施加42 kV电压和630 A电流进行长时电热联合试验,测量并分析套管绝缘电阻,tanδ、电容量、局部放电特征、频域介电谱曲线等参数的变化规律。测试结果表明,tanδ及电容量对套管绝缘受潮缺陷较为敏感,通过tanδ-f曲线及C-f曲线可分析套管内部水分热扩散过程 ...
许佐明   +5 more
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悬浮介质对红细胞变形指数—渗透压曲线的影响

open access: yes, 1991
用激光衍射法测得的红细胞变形指数—渗透压曲线表征红细胞可变性与缓冲液渗透压之间的关系,它与红细胞的寿命有密切关系。本文用PBS和PVP两种介质作缓冲液,系统地观测了悬浮介质物化性能不同对于红细胞变形指数—渗透压曲线的影响。结果表明: 1.在不同悬浮介质中测得的变形指数—渗透压曲线有显著差别 ...
文宗曜   +9 more
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地震条件下损伤–愈合模型的初步研究 [PDF]

open access: yes, 2008
脆性介质的损伤与破坏是力学中极为复杂、极具挑战性的难题之一,而地震是一类典型脆性介质的突发破 裂或失稳。在地震等灾变发生前都会出现一定的前兆现象,地震之后地壳介质又会缓慢愈合,地壳介质的损伤愈 合过程对地震预测具有重要的研究意义。首先介绍V. Lyakhovsky 等提出的损伤流变模型,且结合岩石破坏声发射 实验数据分析该模型的特点;进一步基于损伤力学,从Helmholtz 自由能出发,并考虑地质材料的可愈合效应, 建立一维损伤–愈合模型,采用数值计算的方法得到地质材料的损伤–愈合模式 ...
梁乃刚, 张浪平, 尹祥础
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光纤通信中机械误差损耗的研究

open access: yes, 2014
深入研究了在1 550和1 330nm波长条件下光纤传输中机械对准误差导致的损耗问题。MATLAB仿真结果表明:高阶模比低阶模有更严重的衰减,单模光纤横向对准误差是最严重的损耗因素;较大的数值孔径时角度对准误差导致的耦合损耗减小,而在数值孔径一样时匹配液折射率越高耦合效率越低,这与端面间隙导致的损耗影响相反 ...
张伟杰
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运行与检修问答

open access: yesGaoya dianqi, 1990
【问】测多油断路器的介质损耗因数tgδ应注意什么? 【答】对多油断路器作介质损耗因数tgδ值测试的主要目的是判断其套管是否有严重受潮的现象,电容式套管远较纯瓷套管容易受潮,受了潮也较难处理,最重要的是其发展下去会导致严重的后果。但电容式套管本身远没有多油断路器内某些其它绝缘件那样容易受潮。因此,测试时要注意二点:一是要在断路器分闸状态下进行测试,以免掩盖问题的暴露 ...
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掺锰改性(Bi0.5Na0.5)0.94(Ba0.5Sr0.5)0.06TiO3压电陶瓷的性能和微结构

open access: yes四川大学学报. 自然科学版, 2005
采用传统陶瓷生产工艺制备了新型(Bi0.5Na0.5)0.94(Ba0.5Sr0.5)0.06Ti O3+x(wt%)MnO2体系无铅压电陶瓷,研究了陶瓷的晶相结构、表面形貌、压电和介电性能.结果表明,该体系具有单一的钙钛矿结构;具有良好的压电性能,其压电常数d33为101pC/N,机电耦合系数kp为0.21,机械品质因素Qm为192,且具有较低的介质损耗(tanδ=0.0217).在1200℃,2h的烧结条件下,能够获得致密的陶瓷体;MnO2的添加量对晶粒生长具有一定的限制作用,随着Mn元素的含量增加,
尹奇异, 肖定全
doaj  

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