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, 2007 本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果，系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术，先进性、学术性和实用性兼备。全书共十一章，内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用 ...
祝宁华
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Gaoya dianqi, 2015 主要介绍带电检测技术在110 kV变压器套管故障诊断中的成功应用案例。针对佛山局某110 kV变电站2号主变压器变高C相套管常规试验介损值、电容量超过规定值,套管油色谱试验发现乙炔超标的情况,对该套管进行带电测试,确定该套管存在缺陷;对套管高压介损和局部放电试验并解体发现,在该套管第1屏和第2屏存在放电痕迹,验证了测试结果。
邱太洪 +5 more
doaj
±800kV特高压直流工程换流变压器阀侧对称加压局部放电试验的现场试验方法探讨
Gaoya dianqi, 2015 长时感应电压（ACLD）带局部放电测量试验是检测变压器内部是否存在缺陷的最有效手段之一。笔者以±800 kV特高压直流工程中Y-Δ换流变压器局部放电测量试验为对象,研究并成功实施了现场直接采用阀侧对称加压方式进行的ACLD带局部放电测量试验。详细介绍了该试验的试验原理及方法、试验参数的计算和现场实施情况,并对试验回路中采取的抗干扰措施进行了总结。试验结果验证了特高压换流变现场阀侧对称加压局部放电试验的可行性及有效性。
吴德贯 +5 more
doaj
Gaoya dianqi, 2005 介绍了九里山变电站110kVⅡ号母线B相氧化锌避雷器(MOA)运行中发生爆炸的情况,观察剖析了其爆炸的原因。针对MOA内部受潮劣化后,其运行电压下全电流及阻性电流均增大,尤其是阻性电流分量增大幅度更大的特点,在对一组投运不久的MOA进行带电测试,发现C相数据异常,随后对同期产品逐一进行了带电测试,对数据异常者进行了综合分析判断,确认了MOA的缺陷是制造时由于内部受潮或密封不良造成。进而验证了MOA带电测试的必要性。
司增彦
doaj
Dianci bileiqi, 2012 阐述了运行中金属氧化物避雷器（MOA）状态检测方法,即停电例行试验、在线监测、带电试验,并分析了各检测项目的试验数据判析方法。提出运行中MOA状态检测应以带电试验为主,其他方法为辅参考MOA运行工况、检修情况进行。在进行MOA性能评价时,应综合分析判断各种检测数据,基于比较法进行全面、正确的评价,以提高MOA安全运行的可靠性。
胡春梅 +4 more
doaj
, 2015 本发明公开了一种弯曲断裂应变测试装置，包括弯曲夹持单元，所述弯曲夹持单元上设有用于固定带材两端的两个带材固定端，其特征在于，还包括用于测量带材断裂半径的测量单元以及向测量单元传送断开信号的通断电路，所述通断电路断开的两电极端分别与对应的带材固定端连接；本发明方法和装置采用通断电路的断开来检测导电带材的断裂，相比于现有技术，操作更简单，检测精度更高 ...
常春涛 +5 more
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Guangtongxin yanjiu, 2004 文章提出一种使用对数转换器进行宽量程、高精度暗电流测试的方案,分析了电流计的通用模型,并开发出一套测试系统,测试灵敏度可达0.1pA,远高于目前国内能够提供的测试仪表.仪器自带偏压输出,除用于光电探测器暗电流的测试、微弱光功率测量外,还可以测量器件的击穿电压、材料的绝缘电阻等.该仪器亦能通过串口与计算机组成功能更强的测试系统.
唐明星 +9 more
doaj
Gaoya dianqi, 2013 笔者对GIS常用的表带触头、弹簧触头、梅花触头进行了对比分析,并介绍了目前用于触头接触状况检测的回路电阻测试、振动法测试、局部放电测试、红外测温、SF6气体检测、光纤测温6种技术,同时结合典型案例分析了目前规程规定的检测方法即回路电阻测试所存在的问题,并据此提出大电流下进行回路电阻测试的建议。
王俊波 +5 more
doaj
Dianci bileiqi, 2020 MOA作为电力系统中限制过电压的主要设备之一,其性能的优劣直接关系到电力设备的安全运行。对MOA的不同运行状况、不同受潮部位进行了试验分析,通过光纤场强测试仪对MOA在不同运行状况下的沿面纵向场强及电位分布特性进行了研究,确定了避雷器在正常及不同受潮部位下沿面纵向场强及电位的分布特性。通过现场试验验证了光纤场强法在MOA带电检测中的有效性,同时也为MOA现场带电检测提供了新的途径。
邓维 +6 more
doaj
, 2014 本发明是一种针对带电粒子束发生和应用领域真空设备中带电粒子束（团）的三维空间结构成像探测方法。该方法采用微通道板（MCP）和荧光屏组成成像探测单元，通过步进电机控制成像探测单元在带电粒子束的飞行路线上前后移动，通过记录一定时间内到达成像探测器前表面的带电粒子数量及其二维分布情况，实现对带电粒子束截面的成像探测。通过在MCP上加直流脉冲电压，可以得到带电粒子束的时间切片成像，获得短时间（最短可至10ns级）内的带电粒子变化情况；通过对切片图像的还原重构，可以获得带电粒子束（团 ...
孟庆琨 +3 more
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