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Gaoya dianqi, 2010 IEC及中国相关标准推荐了几种绝缘子污秽的试验方法,但不同试验方法对复合绝缘子污闪特性的影响并不明确。以复合绝缘子为例,分别采用恒压升降法、均匀升压法、最大耐受法试验研究了复合绝缘子的交流污秽闪络特性。结果表明:试验方法对污秽影响特征指数a值的影响不明显;在标准偏差取7.0%时,采用均匀升压法得到的50%闪络电压比采用恒压升降法得到的50%耐受电压高0.5个标准偏差,采用最大耐受法得到的最大耐受电压Umw等于采用恒压升降法得到的闪络概率为10%的污闪电压;不同的试验方法得到的试验结果存在内在联系 ...
蒋兴良 +4 more
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Dianci bileiqi, 2010 新疆电网复合绝缘子每年都有污闪事故出现,其中主要原因是部分地区污染太重或气候太恶劣造成绝缘子表面在一定条件下达到了闪络电压,而绝缘子电压分布不均是闪络的直接原因。在这样的情况下,通过一定的实验数据说明了均压环的屏蔽深度、均压环的外径等参数对改善电场分布都有重要影响。提出在这些重污闪地区采用增加均压环来降低绝缘子对塔杆和对导线的电容,进而达到改善电场分布的目的。
张强, 王维庆, 李长凯
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Dianci bileiqi, 2017 为研究长棒形瓷绝缘子的污闪特性,指导线路绝缘配置与选型,采用交流人工污秽试验方法,研究了盐密、污秽不均匀度对单节长棒形瓷绝缘子交流污闪特性的影响,得到了长棒形瓷绝缘子的爬电距离有效系数。试验表明:长棒形瓷绝缘子污闪电压与盐密值之间满足负幂指数关系;长棒形瓷绝缘子表面污秽含量一定时,随着伞裙上下表面污秽不均匀度的增加,其污闪电压先增加后减小;绝缘子迎背风面不均匀积污时,其污闪电压高于均匀积污的情况。以双伞型瓷绝缘子串为基准时,灰密1.0 mg/cm2的长棒形瓷绝缘子的爬电距离有效系数为K1=0.611 ...
张佰庆 +6 more
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Dianci bileiqi, 2018 为了提高支柱绝缘子的外绝缘强度,根据电场分布理论、气体放电理论和沿面放电理论,提出了应用硅橡胶材料附件系统来控制绝缘子外部放电的发生和发展,从而达到提高支柱绝缘子外绝缘强度的目的。以110 kV瓷支柱绝缘子为例,进行了工频干闪电压、湿闪电压和污秽闪络电压的试验。试验结果表明,在没有改变支柱绝缘子的电气距离和结构参数的情况下,应用附件系统将工频干闪电压提高5. 9%,工频湿闪电压提高12. 37%,污秽闪络电压提高22. 06%。研究结果对提高支柱绝缘子的外绝缘有一定的指导意义。
孙伟 +7 more
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[Advances in clinical diagnosis and treatment of chronic osteomyelitis in adults]. [PDF]
Zhongguo Xiu Fu Chong Jian Wai Ke Za Zhi, 2020 Ma J, Yang F.
europepmc +1 more source
Gaoya dianqi, 1989 根据在人工气侯室内对悬式绝缘子XP—7,XWP2—7,DC—Ⅱ—16和支柱绝缘子ZS1—35—400,ZWS1—35—400的直流污闪试验结果,得到了直流闪络电压与气压和盐密的关系,并对不同结构绝缘子的污闪特性进行了分析,提出了表征直流污闪电压随气压降低而下降的特性指数n值的选取原则,并与交流下的结果进行了比较和分析。
谢军 +5 more
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Gaoya dianqi, 2016 金属污染物是引起GIS内盆式绝缘子沿面闪络的重要因素。为了获得金属污染物对盆式绝缘子沿面绝缘特性的影响规律,对雷电冲击作用下金属污染的盆式绝缘子闪络特性进行了较为系统的实验研究。文中基于GIS内金属异物形貌特征的统计分析,通过人工模拟金属异物的方法,分别研究了正、负极性雷电冲击作用下,异物尺度、附着位置以及气室压强对盆式绝缘子闪络特性的影响。实验结果表明,正极性雷电冲击作用下,金属污染的盆式绝缘子闪络电压低于负极性,且金属异物越接近高压电极侧,盆式绝缘子闪络电压越低 ...
黄荣辉 +7 more
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Gaoya dianqi, 2018 RTV涂层长期运行在高温、高湿和强紫外线照射的环境中局部区域涂层会出现粉化甚至脱落现象,文中针对此现象,对不同类型局部破损RTV涂层盘型悬式绝缘子的污闪特性进行了研究。制作不同类型局部破损RTV涂层的玻璃试片,利用人工污闪试验研究局部破损情况对污闪特性的影响,并通过盘式悬式绝缘子的人工污闪试验对以上结果进行了验证;利用有限元软件研究RTV涂层局部破损情况对绝缘子表面电场分布的影响。研究结果表明:绝缘子表面RTV涂层局部破损对盘型悬式绝缘子污闪特性有着重要影响,破损区域沿爬电距离方向距离越长 ...
伏祥运 +5 more
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Dianci bileiqi, 2020 提出了一种计算固定水洗高压绝缘子直流闪络电压的动态模型。模型结合了静态闪络和动态电弧模型,考虑了洗涤过程中污染层电阻随时间的变化。本文在不同的等效盐沉积密度（ESDD）值下试验测量该变化并提出了一种计算洗涤过程中污染电阻随时间变化的数学模型。本文在不同的污染水平下,利用所提出的闪络模型计算直流闪络电压,考虑所采用的ESDD值对所提出的闪络模型进行了试验验证。结果表明所提出的模型与试验结果之间有很好的一致性。最后本文改进了绝缘子洗涤系统,减少洗涤中的闪络。
彭凯, 马鑫, 吴继岩, 王晓燕
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Dianci bileiqi, 1976 对电气化铁道半导体釉绝缘子的运行情况调查结果表明,X-4.5及TX-25A两种半导体釉悬式绝缘子已分别在线路上运行了15个月和10个月,均未清扫过,但没有发生过污闪事故。并拆下5串自然污秽绝缘子进行了污秽及污耐压测量。从试品的污秽程度来看均属三级污秽地区,所有试品均通过36千伏污耐压试验,半导体釉绝缘子的污闪电压均在60千伏以上,普通釉的污闪电压只有40.7千伏。泄漏电流的现场实测表明,脏污绝缘子泄漏电流很小。模拟蒸气机车喷气时绝缘子工况实测结果为,喷气2分钟后,其泄漏电流达13毫安,但下降很快 ...
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