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Dianci bileiqi, 2012 针对电气铁路支撑绝缘子污闪情况,分析了在列车风环境下,高速机车间歇列车风环境对支撑绝缘子表面积污状况的影响。分析表明,在列车风环境下,绝缘子两端部积污明显,应以端部积污状态来确定清扫频率;在输电线路闪络模型的基础上,结合在间歇性列车风影响下支撑绝缘子闪络的特点,分析了风场环境及风速对污闪的影响,修正了闪络模型。
隋彬 +5 more
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[Determination of polybrominated diphenyl ethers in marine sediments by composite chromatography column purification-gas chromatography-negative chemical ionization-mass spectrometry]. [PDF]
Se Pu, 2023 Dong JY +6 more
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Gaoya dianqi, 1972 在绝缘子人工污闪试验中,由于表面污秽层电导率高,泄漏电流不但数值大,且幅值波动也大。如果电源内阻大,就会导致试品端电压随之波动,影响试验结果的可靠性,使试验得到的污闪电压值偏高。因此,在作污闪试验时,要求电源设备的容量要大,试验迥路的阻抗应尽量减少。这就是污闪试验对设备的特殊要求。
王勇武, 张俊锋
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Dianci bileiqi, 2017 为研究长棒形瓷绝缘子的污闪特性,指导线路绝缘配置与选型,采用交流人工污秽试验方法,研究了盐密、污秽不均匀度对单节长棒形瓷绝缘子交流污闪特性的影响,得到了长棒形瓷绝缘子的爬电距离有效系数。试验表明:长棒形瓷绝缘子污闪电压与盐密值之间满足负幂指数关系;长棒形瓷绝缘子表面污秽含量一定时,随着伞裙上下表面污秽不均匀度的增加,其污闪电压先增加后减小;绝缘子迎背风面不均匀积污时,其污闪电压高于均匀积污的情况。以双伞型瓷绝缘子串为基准时,灰密1.0 mg/cm2的长棒形瓷绝缘子的爬电距离有效系数为K1=0.611 ...
张佰庆 +6 more
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Gaoya dianqi, 2020 近年来,我国内陆重污区输电线路在冬季频发短时积污雪而引起的快速污雪闪。快速污雪闪相比于传统污闪具有以下显著特点:一是地域性,快速污雪闪多发生在内陆重工业污染地区久旱之后的降雨雪过程;二是短时性,绝缘子在短时间内快速受潮且积污严重湿润,其污秽条件与受潮条件几乎是同时具备。为了研究覆污雪对输电线路外绝缘电气性能的影响,对覆雪110 kV绝缘子串进行了三维建模与电场仿真研究。结果表明,覆雪会畸变绝缘子串电位分布,导致导线侧与杆塔侧绝缘子分担电压显著提升;当绝缘子表面严重积雪并形成雪柱时 ...
魏远, 张欢畅, 黄正勇
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Dianci bileiqi, 1987 通过对二台KW4—330空气断路器断口灭弧瓷套污闪爆炸的原因分析,指出断路器污闪的严重性;强调了这个以前没有分析过的断口瓷套的污闪过程需进行精细的观察研究;指出了断口瓷套在污秽条件下绝缘爬电距离的配合问题。最后对运行中的断路器防污闪问题提出几点实用措施。
喻华玉
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Dianci bileiqi, 2014 分析了玻璃、瓷绝缘子在污秽闪络方面存在的一些问题,提出了应用附件系统提高玻璃、瓷绝缘子的污秽闪络电压的解决方法,针对这种类型的绝缘子进行污秽闪络电压的试验,试验结果表明,在没有改变绝缘子原有结构的情况下,应用附件系统可提高他们污秽闪络电压。
周荣林 +3 more
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[Rapid and simultaneous determination of glyphosate, glufosinate, and their metabolites in soil by high performance liquid chromatography-tandem mass spectrometry]. [PDF]
Se Pu, 2022 Ping H +6 more
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Gaoya dianqi, 2019 RTV防污闪涂料是电力系统中广泛采用的防污措施,能够有效提高电力系统外绝缘耐污性能。但作为一种高分子材料,RTV涂料的耐候性并不理想,在长期运行中可能出现起皮、脱落、粉化等现象进而影响耐污性能。文中以同一厂家、不同运行环境下的RTV防污闪涂料样品作为研究对象,分析了涂料的性能指标及微观结构变化情况。分析发现,RTV防污闪涂料在运行后会出现有机基团含量下降、二氧化硅成分增加等现象,且高温高湿环境中样品的老化更为严重。研究表明,老化后的RTV防污闪涂料热稳定性下降,有机组分减少 ...
贾伯岩 +5 more
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[Comparison and progress review of various super-resolution fluorescence imaging techniques]. [PDF]
Se Pu, 2021 Chen J, Liu W, Xu Z.
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