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Gaoya dianqi, 2019 红外检测作为电流互感器（CT）带电检测的重要手段,能快速、实时地带电检测和诊断出设备的大多数异常发热缺陷,防止出现故障。文中首先分析了广州电网自2005年来电流互感器红外带电检测开展的工作质效,发现红外检测可有效检测高压电流互感器缺陷。然后具体分析了一起红外检测发现的220 kV倒置式CT综合致热型缺陷,从现场高压介损试验、绝缘油试验以及局放试验多方法、多维度相结合对发现异常的电流互感器进行了综合诊断分析,明确了异常CT内部缺陷存在。最后通过停电检修解体,发现了异常CT膨胀器内部缺油 ...
范伟男 +5 more
doaj
, 2018 提出了一种基于机器视觉系统的薄膜缺陷检测与厚度测量的方法。该方法通过建立CCD接收到的放置薄膜前后的图像灰度与厚度之间的关系,利用同样的图像采集硬件和不同的软件分析方法,在保证实现最小缺陷0.1mm×0.1mm检测的同时,完成单次66mm×50mm的大范围厚度测量。在基于透射光密度原理进行厚度测量时,为减小测量误差,采用标准密度值标定板对系统进行标定,对计算的理论光密度值进行偏移校正。以四氟薄膜为例,其厚度检测平均误差为5.7%,标准偏差为6.66%。仅需匹配简单的扫描装置 ...
陈方涵, 蒋仕龙, 赵光宇
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Gaoya dianqi, 2023 罐式断路器筒体的焊接质量决定着电网安全稳定运行，早期制造厂仅做了纵缝两端射线检测、整体水压试验及焊缝表面渗透检测，并未对环缝内部进行检测。文中主要在罐式断路器环缝上运用射线检测技术发现缺陷，采用槽式透度计测量未焊透缺陷高度，考虑多种因素影响，借助仿真软件，建立未焊透、裂纹缺陷模型，对罐式断路器在缺陷下能否运行做可行性分析，从而为罐式断路器检测结果评判及焊接工艺改进提供了重要理论依据。
孙贺斌 +4 more
doaj
Dianci bileiqi, 2020 介绍了一起金属氧化物避雷器缺陷,通过对阻性电流带电检测数据及红外热像图的综合分析,初步判断存在缺陷,停电试验数据验证了避雷器存在绝缘缺陷。解体检查发现缺陷原因为制造时绝缘筒内填充胶未固化,其沉降于避雷器中下部,而上端部留有大量空隙。通过建立缺陷模型,从原理上解释了试验现象。最后提出对避雷器带电检测工作的建议,以提高缺陷的检出率及准确率。
陈晔, 谢文炳, 黄坤, 王李惠
doaj
Method for automatic identification and detection of defect in composite material
, 2012 本发明涉及一种复合材料内部缺陷类型自动识别检测方法，步骤为：利用红外热波无损检测设备对复合材料进行检测，生成红外图像；对红外序列图像进行相空间重构，确定复合材料缺陷的位置并分割图像的缺陷区域；对具有缺陷区域的红外序列图像进行相空间重构，进行奇异值分解得到奇异矩阵及左右两个投影矩阵，对上述两个投影矩阵分别进行再次矩阵重构，再次通过奇异值分解提取缺陷时间信息和空间信息的代数特征，构造混合特征向量作为缺陷的特征表征；运用RBF神经网络分类器结果完成识别分类判断。本发明对复合材料的部缺陷实现自动识别检测 ...
郝明国 +5 more
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Real-time aluminum profile surface defect detection system based on machine vision
, 2015 本发明提供了一种基于机器视觉的铝型材表面缺陷实时检测系统，包括通讯设置模块、相机设置模块、对焦调节模块、电气控制模块、状态显示模块、图像显示模块、数据统计模块和故障检测模块。本发明基于机器视觉技术实现了铝型材表面缺陷的实时无损检测，与现有的人工检测相比，提高了自动化程度，减轻了劳动强度，能更快速、准确对缺陷进行定位，大大减少人力投入，具有检测速度快和检测精度高的优点，该系统结构简单，易于维护 ...
吴阳 +4 more
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, 2018 混凝土是建筑工程中最重要的组成材料, 直接关系到建筑工程的整体质量, 对建筑工程的快速发展具有重要意义。但是现阶段,我国建筑工程在施工中经常会造成混凝土结构出现损伤,严重降低建筑工程的使用寿命。基于此,本文就对超声波检测技术对混凝土内部缺陷检测进行探究。
增强 郭, 玉云 李
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, 2006 综合深能级缺陷和电学性质的测试结果，证明了半绝缘InP单晶材料的电学性能、热稳定性、均匀性等性能与材料中一些深能级缺陷的含量密切相关．通过分析深能级缺陷产生的规律与热处理及生长条件的关系，给出了抑制缺陷产生，提高材料质量的途径 ...
董志远 +4 more
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, 1996 以瞬态光霍尔测量为基础,建立了观测俘获过程的深中心分析测试新手段.该方法不需要做肖特基结、p-n结、或MIS结构,几乎可在零电场下测量缺陷参数,克服电场、德拜带尾、非指数瞬态等对缺陷特性的影响,也克服了深能级瞬态谱技术(DLTS)只能通过载流子发射过程间接测量俘获参数的缺点.用此方法测量了Ga_(0.7)Al_(0.3 ...
王海龙, 周洁, 杨锡震, 封松林
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Micron defect inspection for wafer surface
, 2015 为降低晶圆缺陷对半导体制造的影响，在基于改进的多重中值滤波算法的基础上，以差影法为基本原理，采用归一化互相关的模版匹配方法实现晶圆表面缺陷检测。改进的多重中值滤波算法有效实现噪声点与非噪声点的分辨，归一化模版匹配算法对光照具有很好的鲁棒性。对大量的晶粒进行实验，实验结果表明，该方法可有效检测出晶圆表面的缺陷，精度达到15μm左右，所提检测算法在实际的应用中可代替人工，快速 ...
戴敬, 马继开, 杨志家, 肖朋
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