Results 51 to 60 of about 80 (70)
Mucoviscidosis: fisiopatología, genética, aspectos clínicos y terapéuticos. [PDF]
EMC Pediatr, 2020 Noël S, Sermet-Gaudelus I.
europepmc +1 more source
CARACTERISTICAS MORFOLOGICAS DE LAMINAS DELGADAS DE ZnO:Al OBTENIDAS POR SPUTTERING DE RF
Anales (Asociación Física Argentina), 2003 El óxido de zinc dopado con aluminio (ZnO:Al) en forma de película delgada fue depositado por la técnica de sputtering de RF. Se modificó la geometría del reactor y las variables de operación tales como la temperatura del sustrato y la presión de argón ...
M. G. Furlani, R. H. Buitrago
doaj
Revista de I + D Tecnológico, 2016 Películas delgadas de SnO2:F fueron depositadas sobre substratos de vidrio utilizando la técnica de rocío pirolítico. Para la preparación de las muestras, se utilizó una solución de dicloruro de estaño SnCl22H2O a la cual se le añadió fluoruro de amonio (
Héctor Miranda +3 more
doaj
Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, 2000 A miniaturised memory device for information recording and readout processes have been designed on the basis of anisotropic magnetoresistive effect in Fe15Co20Ni65(160Å)/ TiN(50Å)/Fe15Co20Ni65(160Å) three-layered film done by rf diode sputtering.
Kurlyandskaya, G. V. +5 more
doaj
ULTRASONIC SENSOR FOR THE PRESENCE OF OILY CONTAMINANTS IN WATER
Dyna, 2012 La determinación del coeficiente de reflexión de ondas transversales ultrasónicas en la interfaz sólido-líquido es una técnica que ha sido usada para la medición de las propiedades viscoelásticas de líquidos. Una característica interesante de la técnica
EDIGUER E. FRANCO +2 more
doaj
PELÍCULAS DELGADAS DE ZnO IMPURIFICADAS CON ALUMINIO Y FLÚOR PREPARADAS POR SOL-GEL
Avances en Ciencias e Ingeniería, 2012 Se han fabricado películas delgadas de óxido de cinc impurificadas con aluminio y flúor (ZnO:Al:F), mediante el proceso de sol-gel y la técnica de inmersión repetida. Las películas se depositaron sobre sustratos de vidrio sodo-cálcico. Se ha estudiado el
Salvador Tirado
doaj
Estudio de cerámicas ferroeléctricas de la familia Aurivillius: SrBi2Ta2O9 – Bi3TiNbO9
Revista de I + D Tecnológico, 2002 Muestras en polvo y en películas delgadas del ferroeléctrico (SrBi2Ta2O9)* Bi3TiNbO9) 1-x; para x=0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8 y 1, fueron preparadas por método estándar de calcinación y por el método de deposición por solución metal-orgánica, respectivamente ...
Eleicer Ching
doaj
CARACTERIZATION OF THIN FILMS BY X’Pert-PRO PANalytical DIFRACTOMETER
Momento, 2014 In this work, the structural characterization of thin films using a conventional diffraction equipment, brand X'Pert PRO PANalytical X-rays is described. A brief review of the theoretical diffraction techniques and X-ray reflectivity is included.
Jhonny Tolosa, César A. Ortiz
doaj
Anales (Asociación Física Argentina), 2013 Se presenta un estudio de la DOS de semiconductores en película delgada a partir del Método de la Fotocorriente Modulada (MPC). Se utilizó como fuente de luz un láser de HeNe de 10mW modulando 12.5% en intensidad mediante un modulador electro-óptico. Se
A. Dussan +3 more
doaj
PRIMERAS ETAPAS DE OXIDACIÓN DE PELÍCULAS DELGADAS DE Yb: UN ESTUDIO CON ESPECTROSCOPÍA AUGER
Anales (Asociación Física Argentina), 2013 Por medio de la espectroscopia Auger se estudiaron las primeras etapas de oxidación de películas delgadas de yterbio. Para interpretar la cinética de oxidación del Yb, los espectros Auger adquiridos para diferentes exposiciones de oxígeno, fueron ...
S C Concari +3 more
doaj