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涂层界面失效过程的ESPI无损检测方法
高瑾,申琳,冯海翔,姜洪霞,李晓刚
北京科技大学学报
《北京科技大学学报》编辑部
2016
10.13374/j.issn2095-9389.2016.01.013
2024-11-08 14:57:41