Results 51 to 60 of about 190,769 (137)
EXPERIMENT STUDY OF A CRACK GROWTH AND PREDICTION OF RESIDUAL LIFE FOR THE SUCKER ROD
应用超声波探测抽油杆疲劳裂纹扩展时的深度a, 通过室内实验找出D级抽油杆裂纹深度a和裂纹宽度c之间的比趋向于0.78, 简化后可直接研究超声波信号V和裂纹深度a之间的关系, 从而用V-a关系估算有疲劳裂纹D级抽油杆的剩余寿命 ...
姚红星, 柳春图
core
健康寿命と1人当たり総保険医療支出額(US$)、対GDP総保健医療支出額比は、いずれも相関しており、HIV/AIDS流行の影響が大きいサハラ砂漠以南アフリカ諸国を除外すると、その関連はより強くなった。60歳時平均健康余命は1人当たり総保険医療支出額(US$)と正の相関を示した。予防・公衆衛生関連分野への保健医療支出と健康寿命、60歳時平均健康余命とも、正の相関が認められた。journal ...
玉腰, 浩司 +3 more
core
为科学合理地评估在运电力变压器的健康水平,根据变压器关键特征信息,建立了由本体数据、在运数据、修正系数构成的三级评估模型。引入健康指数理论,分析了反应变压器绝缘状态的不同关键特征信息的权重,提出了变压器三级评估模型健康水平的计算方法,并在此基础上得出变压器剩余寿命计算公式。最后结合一个实际案例,证明了该方法能科学、准确地评估电网在运电力变压器的绝缘状态,为工程技术人员评估变压器绝缘状态和剩余寿命提供参考。
江涛 +5 more
doaj
基于Weibull分布和MOV脉冲电流特性的智能SPD脉冲电流寿命评估方法
浪涌保护器(SPD)是低压电力线路中用于限制过电压,泄放电涌电流的重要电气装置。随着物联网的发展,传统的SPD逐步发展成为具有在线监测工作状态、故障诊断、寿命预测等功能的智能SPD。由于SPD的寿命与其核心元件金属氧化物压敏电阻(MOV)的寿命密切相关,文中基于Weibull分布并结合MOV的脉冲电流寿命特性,通过试验得到了MOV在不同冲击下的特性方程。根据建立的脉冲电流寿命特性方程和运行中SPD的脉冲电流监测数据,提出了一种SPD剩余寿命评估方法,为智能SPD的不断发展提供了理论支持。
黄鑫 +5 more
doaj
将BP神经网络和遗传算法相结合 ,得到一种新的神经网络 ,并将这种神经网络成功用于计算腐蚀管道的剩余强度和最大允许输送压力。通过示例分析 ,得到下面结论 :不同计算方法计算得到的剩余强度和最大允许输送压力相差较大 ,Wes - 2 80 5 - 97规范、ASME -B31G规范、CVDA— 84规范等都比J积分方法计算得到的剩余强度和最大允许输送压力偏大 ;DM断裂力学方法计算得到的剩余强度和最大允许输送压力比J积分偏小 ;J积分方法和基于J积分方法的改进的遗传神经网络方法计算结果比较接近 ...
喻西崇 +3 more
core
高压充油电缆绝缘老化与其绝缘内部微观缺陷的产生和发展以及油纸劣化有着极为密切的关系。笔者以充油电缆绝缘结构为研究对象,采用红外光谱分析技术对不同热老化阶段的电缆油油样进行了理化分析。实验结果表明:利用红外光谱分析法可以测量电缆油中的糠醛含量:随着老化时间的延长,电缆纸有加速老化的趋势;油中糠醛含量与油中氢气浓度的比值(KFH)可以反映绝缘老化的危险程度。KFH饱和值越高,对充油电缆绝缘剩余寿命的危害越大。
江裕熬 +5 more
doaj
[Effectiveness analysis of resection and reconstruction of primary bone tumor in pelvic zone Ⅱ]. [PDF]
Huang J +8 more
europepmc +1 more source
对我国正在研发的4MWe生物质气化气体机—汽轮机联合循环发电系统进行了寿命周期评价,评价中考虑了由于稻草作为燃料使用,没有还田导致的土壤肥力流失因素。系统边界包括了4个子系统,即化肥生产,生物质运输,发电转换过程,电厂建设和解体子系统 ...
吴创之, 余志, 贾友见
core
光缆的寿命是由光缆中所使用的材料寿命和光缆中光纤的寿命两方面来决定的。光缆长期使用过程中,难免要处于水汽环境中,水分对光缆材料寿命和光纤寿命均有影响。因此,光缆的渗水性能是评价光缆质量的重要指标之一,也是考核光缆环境性能的一个重要方面,是保证光缆寿命(2530年)的重要因素之一 ...
李宏强, 史惠萍
core +1 more source
作者利用正电子湮灭寿命谱(PAL)、光激电流瞬态谱(PICTS)及Hall效应,研究了非掺杂半绝缘(SI)InP中补偿缺陷的形成,即在磷化铁(IP)及纯磷(PP)气氛下不同退火条件时其缺陷的发展变化,从而探讨原生非掺InP形成SI态的机制.实验的原始材料都是用液封直拉法(LEC)生长的n型非掺InP.对原生InP,铟空位VIn及与之相关的缺陷是主要的正电子捕获陷阱,VInH4复合体是使材料成为n型材料的原因.在IP SI-InP的形成中,Fe原子扩散进入VIn,可产生替位的补偿缺陷FeIn ...
杨勋, 戴剑, 王世超, 邓爱红
doaj

