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Dianci bileiqi, 2002 对 MOA电阻片在不同温度下几项主要电气特性试验结果进行了分析 ,阐述了温度对电阻片主要电气特性的影响 ,给出了详细的性能参数随温度的变化曲线 ,使人们对国产电阻片的温度特性有一个较全面的了解和掌握 ,以采取有效的措施大幅度地改善电阻片的固有温度特性 ,提高电阻片的综合电气性能 ,减少高压、超高压 MOA的损坏事故率 ,发展高性能特高压 MOA,提高 ...
郭洁, 朱跃
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Dianci bileiqi氧化锌电阻片的均一性差会造成电阻片劣化，劣化后的电阻片使得避雷器的泄漏电流和功率损耗增加，造成避雷器击穿破坏，影响电力系统的安全可靠运行。本研究基于现场调研，以避雷器氧化锌电阻片为研究对象，通过试验与仿真相结合的方式，剖析避雷器氧化锌电阻片的老化特性。开展了氧化锌电阻片的加速老化试验，通过试验获得了电阻片的加速老化特性曲线，该老化特性曲线呈现逐步递减最后趋于稳定的趋势，由此说明该试品的长期稳定性好。本研究结合多物理场耦合仿真，可直观分析试验中电阻片表面温度及电场的分布云图，以及电阻片附近气流变化的流线图，
蒙蕊蕊 +6 more
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Dianci bileiqi, 2019 针对一起复合绝缘氧化锌避雷器部分电阻片劣化后难以利用阻性泄漏电流判定缺陷的案例,利用MATLAB对部分电阻片劣化后的氧化锌避雷器进行了仿真分析,通过对比电阻片在不同劣化程度时,运行电压下通过避雷器的全电流和阻性电流泄漏值,发现当劣化电阻片个数很少时,阻性泄漏电流随着劣化程度的增加存在一个峰值,当劣化程度继续增加,过了这个峰值后难以通过带电检测得到的阻性电流泄漏值判定出少数电阻片严重劣化的避雷器缺陷,仿真结果与缺陷案例吻合。因此,根据仿真结果,提出结合在线监测下的全电流值是否超过初始值10 ...
杨帆 +4 more
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Dianci bileiqi, 2011 目前使金属氧化物避雷器小型化的重要手段之一就是采用高梯度氧化锌电阻片。然而,随着氧化锌电阻片梯度的提高,其电气性能参数也发生相应变化。笔者通过试验,主要研究了高梯度氧化锌电阻片小电流区域中不同温度下的电压-电流特性。通过对试验结果进行分析发现,随着温度的升高,高梯度氧化锌电阻片的电压-电流特性曲线拐点逐渐向前移动,尤其当温度超过50℃时,高梯度氧化锌电阻片的负温度系数绝对值增大,这对避雷器运行的热稳定性会产生不利影响,为高梯度氧化锌电阻片在工程中应用提出建议和意见。
马勍, 石莉敏
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Dianci bileiqi, 1996 小尺寸、大通流ＺｎＯ电阻片是一种流行趋势。本文采用优化电阻片配方及工艺，增涂低温玻璃釉的方法，有效地提高了ＺｎＯ电阻片耐受大电流冲击的能力。
陈光正, 毛华新
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Gaoya dianqi, 2020 氧化锌电阻片在大电流冲击下会出现电流、热量分布不均匀而导致内部应力增大。文中搭建了试验平台测试了不同波形下电阻片失效的临界能量密度,试验表明2 ms方波的临界能量密度要明显高于4/10μs冲击测试,能量密度约为其的1.76倍。不同波形下失效现象比例存在一定的区别,2 ms方波冲击下电阻片会出现穿孔现象,4/10μs冲击测试下,电阻片主要为侧面闪络与破裂两种失效现象。搭建了磁滞回线测试回路,获得了氧化锌电阻片在不同频率下磁导率。试验表明随着频率从100 Hz增加到10 000 Hz ...
王博闻 +7 more
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500 kV避雷器不同污秽状况下径向电场及电压分布的仿真研究
Dianci bileiqi, 2021 500 kV氧化锌避雷器一般布置于室外,其瓷套表面会受到当地环境污染以及冰霜雨雪等天气因素的影响而积污,污秽带来的瓷套表面沿面闪络问题与绝缘子表面污秽类似,不同的是避雷器内部有3节串联而成的电阻片柱,表面污秽状况对内部电阻片的电压分布以及电阻片与瓷套之间的径向电场造成的影响有待研究。应用ANSYS建立500 kV氧化锌避雷器表面污秽时的二维轴对称仿真模型,对避雷器表面瓷套清洁、均匀污秽以及出现局部干燥带时的电场分布进行了仿真计算,结果表明:均匀污秽对避雷器内部电场影响很小 ...
刘家豪
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Dianci bileiqi, 2005 通过掺杂氧化镍、氧化钇,对改善ZnO压敏电阻片电气特性进行了系统研究;分析和讨论了电阻片的电位梯度E、泄漏电流IL、压比Ki、方波、大电流冲击所引起的变化以及老化试验等;掺杂后,不仅提高了电阻片的电位梯度,同时还提高了其能量吸收能力;特别是钇掺杂处于晶界上,抑制晶粒长大,使晶界电压降低,大约为2.2V,是传统电阻片晶界电压的70%。研究获得了电位梯度达260V/mm,方波为800A,能量吸收能力达到300J/cm3的直径为56mm、厚度为9mm的ZnO压敏电阻片。
王玉平, 马军
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Dianci bileiqi, 2005 采取提高热处理温度、延长保温时间等措施,改善直径大且厚的电阻片老化性能,取得了较好的效果。试验证明,热处理工艺可使电阻片的压比明显降低;在0.75U1mA下的阻性电流除少数外均有不同程度的增大,总的规律是尺寸大的比小的增大得多;热处理可明显提高电阻片的方波通流能力,并改善其稳定性。欲通过热处理使电阻片的性能获得最佳,必须根据电阻片的尺寸、烧成制度等调试热处理炉的温度制度及装片密度,选定较合理的工艺。采用再次热处理的方法使已抽查试验的电阻片性能得到恢复。通过X衍射试验 ...
王振林, 高奇峰, 姜玉根
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