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中压交联电缆接头复合界面受潮缺陷的诊断方法研究

open access: yesGaoya dianqi, 2014
电缆中间接头复合界面受潮是中压交联电缆的常见缺陷,在运行的过程中会导致界面表面电阻下降,进而产生沿面放电,逐渐降低电缆的绝缘性能,甚至直接导致电缆中间接头绝缘击穿事故,给电缆线路的安全稳定运行带来严重隐患。笔者根据电缆中间接头的结构特征建立了复合界面受潮缺陷的等效电路模型,仿真分析了不同程度受潮缺陷下,注入脉冲信号的时域反射波形图谱及其典型特征。提出了一种采用基于注入脉冲信号时域反射波法检测与定位电缆中间接头复合界面不同程度受潮缺陷的方法,并通过工业应用案例验证了该方法的有效性。
杨帆   +4 more
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Ti和AlN陶瓷的界面反应

open access: yes, 1997
采用电子束蒸发的方法在抛光的200℃AlN陶瓷衬底上淀积厚度为200nm的Ti膜,并在高真空中退火。研究了从200 ̄850℃温区内Ti与AlN的固相界面反应,给出了界面组分分布随退火温度和时间的变化关系 ...
陈春华   +3 more
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裂纹面无摩擦接触的弹塑性界面裂尖应力场

open access: yes, 1994
本文通过对弹塑性幂硬化双材料界面裂纹尖端应力场的高阶渐近分析;获得了裂纹面无摩擦接触的裂尖一阶和二阶应力场解答;位移场在界面处呈现交叉匹配是本文解答的一个重要特点.最后结果表明;当界面上下材料的硬化指数之差大于1时;(即n1-n2>1时);二阶应力场角分布为一常数解;而当0<n1-n2≤1时 ...
王自强, 夏霖
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烧伤创面内表皮生长因子、表皮生长因子受体、C-myc三种基因表达变化的临床观察

open access: yesZhongguo shiyan zhenduanxue, 2010
目的为探讨烧伤创面愈合机理,了解烧伤创面内表皮生长因子基因、表皮生长因子受体基因和C-myc基因的变化,为临床治疗提供依据。方法我们对25例病人烧伤创面的不同部位应用原位杂交方法,观察表皮生长因子基因、表皮生长因子受体基因和C-myc基因在烧伤创面肉芽中心部(肉芽中心部)、肉芽与愈合皮肤的交界部(创面交界部)、愈合皮肤部位(创面愈合部)和自身正常皮肤对照部位内表达强度和分布的特点。结果同一部位烧伤创面内,表皮生长因子基因和C-myc基因在交界部表达最强;烧伤创面中心部位表达次之,烧伤创面愈合部位表达较弱;
谷廷敏   +4 more
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α铁晶界熵及表面张力的分子动力学模拟

open access: yes, 1991
晶界也是一种界面。表面张力是晶界的一个重要的热力学量。本文采用计算机分子动力学模拟(CMD)方法计算 α-Fe,∑=9 的晶界在不同温度和压力下的表面张力,结果与实验值的比较是满意的。发现熵对晶界的表面张力的贡献是很小的 ...
陈致英, 丁家强
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人机界面的优化设计 [PDF]

open access: yes, 2005
虚拟现实和多通道用户界面的迅速发展,显示出未来人机交互技术的发展趋势是追求“人机和谐”的多维信息空间和“基于自然的交互方式 ...
陈启安
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复合绝缘子压接界面结构部件材质的性能及其组装工艺参数的确定

open access: yesDianci bileiqi, 2001
根据复合绝缘子压接界面结构部件间连接状态及其结构性能特点 ,在合理选择部件构成材质的性能基础上 ,应首先通过分析和实际验证确定界面结构施加外压组装时的极限位移量。然后通过产品运行环温变化及相关因素的影响程度对其进行修正后 ...
张福林, 钱东光
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(Pt及其硅化物)/硅界面的深能级研究

open access: yes, 1994
利用深能级瞬态谱(DLTS), 详细研究了(Pt及其硅化物)/Si界面上存在的各种深能级缺陷中心 ...
丁孙安, 许振嘉
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复合绝缘子界面发热对护套透水性能的影响

open access: yesGaoya dianqi
复合绝缘子运维经验表明界面发热是一种比较严重的缺陷形式。为了研究复合绝缘子界面发热对护套透水性能的影响,首先构建了复合绝缘子的热路模型,验证了该模型的有效性,推导了护套厚度对内外温升的影响,结果表明故障复合绝缘子的界面发热能力一定时,护套更厚的复合绝缘子界面缺陷处温度更高,护套表面温度更低。利用品红溶液渗透硅橡胶片,研究了复合绝缘子界面发热对硅橡胶透水的影响,结果表明溶液渗透深度与时间的平方根近似呈线性关系,温度越高,硅橡胶透水速度越快;分析了水分与温度对芯棒材料水解的影响 ...
吴焱松   +4 more
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气—固绝缘分界面电荷积聚模型及数值计算

open access: yesGaoya dianqi, 2017
气体绝缘金属封闭输电线路(gas-insulated transmission line,GIL)绝缘子在直流电压长期作用下,会积聚表面电荷,引起绝缘子沿面闪络电压降低,导致闪络事故。因此研究绝缘子在长期直流耐受下的表面电荷积聚现象,对气—固界面在直流电压下的电荷积聚机理进行分析,建立更为完善的表面电荷积聚模型,具有重要的理论意义和工程价值。笔者基于3种已有的表面电荷积聚模型、分界面电荷弛豫方程和更为普适的稳态电荷密度方程,利用微元法对盆式绝缘子表面电荷分布进行了数值计算。结果表明 ...
杜乾栋   +6 more
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