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Dianci bileiqi, 2020 ZnO压敏电阻的老化主要由施加电压及温度因素造成,为研究其在工作电压下的热电特性,利用建立的压敏电阻交、直流老化试验平台,开展了热电应力下压敏电阻温度特性、荷电率特性及直流老化特性的试验研究。结果表明:1)直流电压荷电率（电压与压敏电压的比值）在85%～92%区间,泄漏电流和功耗随荷电率增大有下降趋势,而交流电压下两参数随荷电率的增加而增加; 2)直流老化试验中,在97%荷电率和145℃温度下,10K250压敏电阻的泄漏电流经历了快速下降、缓慢上升、激增3个阶段。泄漏电流的剧增点（增长到初始值的900%）
孙伟 +4 more
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Dianci bileiqi, 2014 为了分析直流氧化锌压敏电阻的老化性能及其试验方法,根据氧化锌压敏电阻的老化机理,结合双肖特基势垒和电子迁移理论,提出了直流氧化锌压敏电阻的老化劣化与其直流电压及冲击电流极性有关。通过针对同一型号多个压敏电阻进行的大量实验证明:长期承受直流工作电压及同极性的冲击电流冲击会使压敏电阻老化加速,反之其老化程度明显降低。
刘琦, 赵军, 张利华, 冯凯
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Dianci bileiqi, 2020 由于长期运行在湿热的气候环境下,近年来我国南方地区复合绝缘子异常发热、击穿断裂等故障时有发生,严重威胁了电网的安全稳定运行。为了研究复合绝缘子芯棒的湿热老化特性,首先对芯棒材料进行湿热老化实验,然后利用扫描电镜、红外光谱、热重分析和介电分析等手段对湿热老化和酥朽断裂芯棒进行分析,结果表明:湿热的联合作用能够显著加速芯棒的老化进程,随着湿热老化时间的增加,样品的表面微观形貌、化学基团、热解性能和介电性能均逐渐劣化,其中环氧树脂的碳链和碳氧链的吸收峰、热解剩余质量、介电参数可作为芯棒材料的老化特征参量 ...
曾磊磊 +10 more
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Dianci bileiqi氧化锌电阻片的均一性差会造成电阻片劣化，劣化后的电阻片使得避雷器的泄漏电流和功率损耗增加，造成避雷器击穿破坏，影响电力系统的安全可靠运行。本研究基于现场调研，以避雷器氧化锌电阻片为研究对象，通过试验与仿真相结合的方式，剖析避雷器氧化锌电阻片的老化特性。开展了氧化锌电阻片的加速老化试验，通过试验获得了电阻片的加速老化特性曲线，该老化特性曲线呈现逐步递减最后趋于稳定的趋势，由此说明该试品的长期稳定性好。本研究结合多物理场耦合仿真，可直观分析试验中电阻片表面温度及电场的分布云图，以及电阻片附近气流变化的流线图，
蒙蕊蕊 +6 more
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Dianci bileiqi, 2015 复合绝缘子是绝缘材料在电力系统外绝缘应用之一,其绝缘老化性能与表面憎水性有密切关系,因此需要对其绝缘老化判断方法进行研究。本文提出了一种基于支持向量量机（SVM）的复合绝缘子硅橡胶材料绝缘老化性能的判断方法。支持向量机以结构风险最小化为原则,统计学习训练为基础,具有较强的泛化能力。该文以最大水珠形状因子、面积比等特征参数为输入,硅橡胶材料的绝缘老化性能为输出,建立特征参数与绝缘老化性能间的关系。实验结果表明:该方法能判断出复合绝缘子硅橡胶材料绝缘性能良好、正常、差3种状态,尤其以最大水珠面积比为输入时 ...
何贵, 廖平军
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Gaoya dianqi, 2021 为了研究热老化对发电机定子线棒用环氧—云母绝缘频域介电特性的影响,在170℃环境下对线棒样段进行加速热老化试验,老化时间分别为0、7、14、21 d。通过频域介电谱法测试了不同老化时间试样的频域介电谱,分析了老化时间对介质损耗和相对介电常数的影响;采用扫描电子显微镜和傅里叶红外光谱对环氧—云母绝缘体系老化前后的微观形貌和化学结构等理化特性进行表征。结果表明:在老化前期,由于绝缘体系固化交联结构得到加强,极化强度减弱,导致介质损耗和相对介电常数与未老化试样相比有所下降;随着老化时间变长,老化程度增大 ...
杨敏 +5 more
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Gaoya dianqi, 2019 为了能够实现对变压器油纸绝缘老化状态的准确评估,文中在极化/去极化电流方法的基础上,提出6种表征油纸老化的特征量,并将动态贝叶斯网络引入到油纸绝缘老化状态评估问题中,建立了相应的老化阶段预测模型,针对该模型进行了实例验证。结果表明:从PDC及拓展Debye模型提取的绝缘纸电量Qpaper、稳定平均电导电流■以及平均极化时间常数■对油纸老化状态反映敏感,且与聚合度有良好的拟合关系,可作为表征绝缘纸老化的特征量;油纸绝缘老化状态评估问题符合动态贝叶斯网络的应用条件,通过划分特征量状态及老化阶段 ...
吴晋媛 +4 more
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Monte-Carlo simulation of lifetime distribution on array interconnection of LED module [PDF]
, 2011 利用蒙特卡洛方法对阵列化互连lEd模组的可靠寿命进行了模拟,假设分档后的大功率白光lEd的正向电压符合正态分布,额定电流下的寿命符合对数正态分布,且寿命和电流、温度的关系符合EyIng模型,研究了nxn(6≤n≤12)lEd阵列的寿命分布。模拟结果表明,对于nxnlEd阵列,寿命随lEd数目的增加没有下降反而略有增加,表明对多数目lEd模组采用阵列化互连电路较传统串并联电路具有优势,能提高阵列的可靠性;对系统采用电流降额使用,可靠寿命随着电流降额量的增大而增大,电流降额越大,寿命增大越多 ...
夏正浩, 李炳乾, 郑同场
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