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Jianzhu Gangjiegou Jinzhan对接焊缝为典型的钢结构焊缝形式，其位置处的裂纹和气孔型缺陷的准确检测对于钢结构维护有着重要的意义，使用磁记忆检测技术对焊缝裂纹和气孔型缺陷进行定位时，传统的零点极值理论由于焊接残余应力的影响，难以区分残余应力、焊接裂纹和气孔型缺陷所产生的磁信号，从而在实际检测中造成缺陷定位的误判和漏判，因此，从焊接裂纹和气孔型缺陷和残余应力所在区域磁信号产生机理的不同入手，开展考虑残余应力影响下的焊接裂纹和气孔型缺陷定位检测研究。首先对焊接残余应力与裂纹和气孔型缺陷产生磁信号的机理进行分析 ...
陈悦, 潘学豪, 邓淋方
doaj
The Study on the Industrialized Production Technology of Tungsten Wire for Exposure Lamp of High Performance Copier [PDF]
, 2017 复印机曝光灯用钨丝作为一种特种钨丝，因其使用条件的特殊性，要求钨丝表面光滑无明显裂纹和沟槽，直径均匀，同时还需有良好的抗下垂、抗震和抗电流冲击的性能。 本研究根据复印机曝光灯用钨丝的要求，针对钨材压力加工和电解清洗过程中影响钨丝表面质量，高温性能，直径均匀性和裂纹的因素进行了理论研究和工艺试验，改进了生产工艺，确定了工艺控制标准，产品成功通过客户认证并形成批量采购。研究的主要成果如下： （1）通过对钨丝的表面及其影响因素的研究，确定了氧化退火烧损，电解清洗添加剂及电解电源种类对钨丝表面质量的影响效果 ...
涂启建
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Dianci bileiqi, 2018 分析了地震后支柱绝缘子的缺陷特征,对震后支柱瓷绝缘子进行现场检测,得到了地震位置与时间变化对缺陷影响的规律。结果表明:1)地震引发的故障缺陷以裂纹为主,发生在瓷套根部区域;2)支柱绝缘子缺陷数目随着与震中距离呈现下降趋势;3)瓷体中的微裂纹会随着时间的推移逐步扩大成显性裂纹。研究成果为支柱瓷绝缘子震后处理提供技术支撑。
韩晓言 +5 more
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, 2001 通过对 PZT铁电陶瓷试样在交变力四点弯、交变电场及机电耦合疲劳作用前后的微裂纹和电畴的观察研究发现 :电畴畴壁垂直于硬度痕边界排列 ;裂纹附近畴壁趋于转向与裂纹平行的方向 ;极化试样中的微裂纹萌生和扩展显示出强烈的各向异性 .另外 ,还试图解释实验观察到的在与外加极化电场方向平行的初始试样表面内存在大量微观畴带的现象
向宇, 张颖, 程璇
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Shiyou jixie, 2015 油井管在服役工况下常常受到腐蚀介质和交变载荷（弯曲、振动）的共同作用，会发生严重的腐蚀疲劳破环。分析了环境、力学状态和材料特性等因素对腐蚀疲劳的影响，介绍了油井管腐蚀疲劳的国内外研究现状、裂纹萌生机理和裂纹扩展机理。裂纹萌生机理包括点蚀坑处应力集中、构件几何不连续、驻留滑移带和表面膜破裂等，裂纹扩展机理包括阳极溶解、活性因子、表面能减小、产物转移和产物膜因素等。指出油井管腐蚀疲劳研究的重点和难点是腐蚀环境下的腐蚀疲劳机理，应深入研究服役工况下各种影响因素之间的耦合作用对油井管腐蚀疲劳的影响 ...
崔, 璐, 李, 臻, 王建才, 窦益华
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, 1988 本文研究爆炸处理时裂纹在应力波作用下的动态扩展行为,分别讨论了入射波、反射波和应力波持续时间的作用,并根据线弹性断裂力学复合型准则和动态断裂准则对裂纹的扩展进行了分析,作者建议用吸能块的办法控制爆炸处理时裂纹的扩展 ...
孙琦清, 郑哲敏, 高桦
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Guangtongxin yanjiu, 1993 <正> 提高光纤强度的方法都是消除光纤表面的微裂纹。而提高光纤强度既是系统工程,又是环境工程,贯穿在光纤制作的各个环节。微纹刻蚀技术、TiO2涂覆等方法用作消除表面微裂纹是有效的,而钝化工艺及密封涂覆既可消去光纤表面微裂纹,亦可解决光纤“疲劳”问题。碳涂覆较金属涂覆、陶瓷材料涂覆理想,因为碳的低扩散系数允许使用较薄的涂覆防止氢和水的渗透,碳的低弹性模量使碳涂覆光纤在破断之前就能经受很高的应力,并且碳涂覆的拉丝速度可达600m/min。
郑先华, 刘有信
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Performance enhancing and plastic deformation mechanism of nanocrystalline transition metal nitride hard coatings [PDF]
, 2016 针对高速干式切屑加工的苛刻服役环境，本文研究工作主要集中于优化提升Zr基及Cr基氮化物硬质涂层的力学及抗氧化性能；探讨氮化物硬质涂层的塑性变形机制；并建立硬质涂层组织结构与性能演变之间的关联。本文从涂层成分设计及结构设计角度出发，阐述了优化提升Zr基及Cr基氮化物硬质涂层力学及抗氧化性能的方法；同时也提出研究二维薄膜材料塑性变形行为的实验方法，并归纳出硬质涂层塑性变形机制的研究内容。本文所取得的主要结论如下： （1）、掺杂元素的离子半径决定了涂层晶胞参数的变化规律 ...
吴正涛
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