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A formal verification method: model checking(一种形式化验证方法：模型检验)
Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2006 模型检验作为一种形式化验证方法，近年来在各种硬件、软件设计中得到了广泛应用.文中首先介绍了描述系统行为的Kripke结构和描述系统性质的CTL逻辑，然后介绍了模型检验中常用的两种算法：标记算法和基于固定点的算法，最后介绍了为避免内存爆炸而引入的符号模型检验技术.
YANGJun(杨军) +3 more
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Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2010 提出了一种基于整体退火遗传算法的动态IR drop分析方法.该方法在经典遗传算法基础上,引入父代竞争和适应函数模拟退火处理,优化了动态分析的输入向量,加快了分析速度.实验表明,与经典遗传算法相比,该方法提高了动态IR drop分析的准确性,提高了算法收敛速度,繁殖代数平均减少了35%,分析结果改进了10%左右.
ZHOUZhi-ming(周知名) +2 more
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Power-aware mapping based-on genetic algorithm for Network-on-Chip(基于遗传算法的片上网络低功耗映射)
Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2010 随着片上网络(Network-on-Chip)集成度的提高,功耗逐渐成为设计的焦点.本文提出了一种在延时约束条件下,基于遗传算法的片上网络通信链路的低功耗映射算法.该算法使用数组方式编码染色体,并采用非常规码的交叉和变异运算因子.它充分利用遗传算法的群体优势,能快速有效地对通信功耗作优化.实验表明,该算法能平均减少50%左右的通信功耗.
DONGWen-xiao(董文箫) +3 more
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Bandgap voltage reference design with enhanced tolerance of process variations(增强工艺偏差容忍度的带隙基准电压源设计)
Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2016 随着CMOS工艺特征尺寸的减小，带隙基准电压源在制造过程中因器件失配和工艺波动易导致实际输出电压和目标值发生偏离，降低芯片成品率.为此提出将Pelgrom失配模型引入电路设计中，分别从器件参数、电路结构、版图布局三方面对亚微米级的电路进行工艺偏差优化.基于华润上华(CSMC)0. 5 µm工艺以及Hspice软件仿真，显示基准源输出电压为1.232 54 V，偏差小于5 mV.流片测试结果表明，应用此设计的三通道LED驱动控制芯片成品率达到96.8%，输出电流达到(18±0.5)mA的芯片占99.
YUMiao(俞淼) +3 more
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A scalable hardware implementation of the support vector machine(一种可伸缩的支持向量机的硬件实现方法)
Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2009 提出了支持向量机(Support Vector Machine)学习过程硬件实现的一种新的数字电路结构,它可以在保证向量机学习速度的同时,提高支持向量机的硬件资源利用效率；此外基于此结构的支持向量学习机还可以适用于低于设计数的样本集.由于该设计的灵活性以及其对硬件要求的减小,使得支持向量学习机可以更好、更方便地应用于嵌入式系统中.
WANGSi-ping(王嗣平) +2 more
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Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2010 在移位多项式的弱共轭基底的理论推导的基础上,提出了一种有限域上的并行比特乘法器的新结构.在由不可约三项式f(x)=xm+xk+ 1生成的域内,此种结构的并行比特乘法器需要m2个与门和m2 — 1个异或门.在同样的空间复杂度下,时间复杂度降低为,具有最短的关键路径.
LIDa-wei(李大为) +2 more
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Computational and theoretical analysis of supervised dimensionality reduction(监督降维算法的计算和理论分析)
Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2009 在小样本条件下,由于离散矩阵的奇异性,作为监督降维的传统线性鉴别分析(LDA)并不能直接计算.许多扩展算法被提出以克服此问题,一般可分为3类：基于类内离散矩阵零空间的方法、基于总体离散矩阵列空间的方法和基于其它子空间的方法.为了深入了解前2类算法的特性,作了计算和理论分析,并得出结论：在满足一定条件下（小样本高维数据一般都满足）,基于类内离散矩阵零空间和基于总体离散矩阵列空间的方法具有等价关系,仅最优矢量集的约束条件和实现途径有所区别.在人脸数据库ORL和YALE上的比较实验结果亦证实了上述结论.
ZHAOWu-feng(赵武锋) +2 more
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Lithographic hotspot detection based on SVM and genetic algorithm(基于支持向量机及遗传算法的光刻热点检测)
Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2011 提出一种基于支持向量机(SVM)及遗传算法(GA)的集成电路版图光刻热点检测方法.首先对版图样本进行离散余弦变换(DCT)以提取样本的频域特征，然后基于这些样本训练SVM分类器以实现对光刻热点的检测.为了提高光刻热点检测的精度及效率，采用遗传算法(GA)对频域特征进行选择，并同时优化SVM参数.实验结果表明，基于SVM及版图频域特征并结合遗传算法进行优化的光刻热点检测方法可以有效提高版图光刻热点的检测精度.
CAOKui-kang(曹葵康) +2 more
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On-line support vector regression with multiple samples(基于多样本的在线支持向量回归算法)
Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2011 提出一种针对多样本的在线支持向量回归(SVR)算法，以解决目前SVR在线训练算法每次只能处理1个样本的问题.算法以拉格朗日乘数法和库恩-塔克(KKT)条件为基础，逐步改变样本的系数，并在每次迭代中保持原来的样本满足KKT条件，最终使所有训练样本满足KKT条件.实验表明，该方法可有效更新SVR模型，且计算效率相比于基于单样本的在线回归算法有较大的优势.
CAOKui-kang(曹葵康) +1 more
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D flip-flop based physical unclonable functions(基于D 触发器的物理不可克隆函数)
Zhejiang Daxue xuebao. Lixue ban, 2019 物理不可克隆函数（PUF） 是指利用半导体制造工艺中不可避免的固有偏差，产生具有独特性和稳定性的响应结果，使集成电路芯片具有不可克隆的特性。提出了一种新型的基于D 触发器的物理不可克隆函数。利用 D 触发器建立的时间随机分布函数产生PUF 激励输出响应，并通过D 触发器对的差分结构提高输出结果的准确性。实验结果显示，此PUF 的性能近乎理想。与主流PUF 相比，基于D 触发器的PUF 明显增强了设计的唯一性。
ZHANGPeiyong(张培勇) +4 more
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