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基于思维进化和L-M法优化BP神经网络的SF6断路器触头电寿命评估
Gaoya dianqi, 2023 文中分析35 kV SF6断路器一相触头的动态电阻曲线的特点，提取出主触头接触行程、主触头电阻平均值、弧触头接触行程、弧触头电阻平均值和主触头分离时刻动态电阻极大值5个特征参数，分析得到随着烧蚀程度加深，主触头接触行程和弧触头接触行程减小，主触头电阻平均值、弧触头电阻平均值和主触头分离时刻动态电阻极大值增大。提出电寿命指示参数描述触头状态，采用数值表示法，1表示电寿命完好，0表示电寿命完结。以5个特征参数为输入，电寿命指示参数为输出，基于BP神经网络建立电寿命评估模型 ...
马飞越 +7 more
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Gaoya dianqi, 2005 介纠了不同开断电流对灭弧室烧损量的折算方法,分析了SF6和真空断路器电寿命的不同限值标准。以笔者推荐的电寿命折算方法和我国通用的电寿命限值标准为基础 ...
黎斌
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Gaoya dianqi, 1993 阐述了真空断路器电寿命试验的重要性和用降低电压法进行真空断路器电寿命试验的基本原理。详细介绍了用微机控制和测试真空断路器电寿命试验的方法、原理及试验结果。
贾申利, 王季梅, 王毅
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Gaoya dianqi, 2015 金属化膜电容器具有高储能密度、高可靠性和高寿命特点。自愈是导致电容器电容量下降的主要原因。笔者分析金属化膜的自愈特性和电容量下降机制,通过研究自愈过程中的自愈面积、自愈能量和击穿电压的关联性,得出电压幅值和电压反峰比对电容器的寿命影响程度并归纳出经验公式。通过对金属化膜电容器的寿命测试,对经验公式中的系数进行拟合。最后得出不同电压幅值和不同电压反峰比下电容器寿命经验型预测公式。
于成龙, 杜涛, 李化, 李智威
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Gaoya dianqi, 2014 特高压变电站三次侧无功补偿专用断路器动作次数多、关合涌流高、开断电流大,若发生重击穿将破坏设备绝缘及引发事故扩大的可能。由于特高压工程对专用断路器的技术参数要求高于相关标准,现场运行的投切电容器组断路器未进行满足特高压工程要求的电寿命试验。为了保证特高压工程可靠运行,亟需验证专用开关的电寿命。该项目分析了专用断路器运行工况,进行了电寿命试验回路参数的计算、仿真、建设、调试,并完成了3个不同型号产品的电寿命试验。试验验证了运行中专用断路器的实际电寿命,为现场运行提供了试验参考 ...
张振乾 +5 more
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Gaoya dianqi, 2016 为了提高特高压系统用电容器组开关弧触头的使用寿命,在拟工况环境下对其进行电寿命实验,发现Cu W/Cu Cr弧触头在近千次开合实验后失效。通过对失效前后弧触头的形貌、成分、组织及性能变化进行分析研究,寻找影响弧触头使用寿命的主要因素。结果表明:特高压系统用电容器组开关弧触头除电弧烧蚀引起弧触头失效外,机械磨损及挤压变形也是影响其使用寿命的关键因素。因此,协同提高耐电弧烧蚀、抗机械磨损及挤压变形的能力是制备高电气寿命触头材料的关键。
张乔 +5 more
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Gaoya dianqi, 1992 通过对国产10kV/630A/20kA真空断路器实际电寿命试验以及大电流开断试验,研究了大功率纵磁场真空断路器采用大电流加速电寿命试验方法的可行性,试验及理论分析表明,对于纵磁场真空断路器采用大电流加速电寿命试验不仅方法可行,而且还能由短路电流分断次数推算出等效额定电流下的操作次数来。
邹积岩, 程礼椿, 祝新强
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Gaoya dianqi, 2023 目前针对交流GIS聚酰亚胺电极覆膜微粒抑制效果及绝缘寿命评估的相关研究尚不清晰。文中针对交流GIS，首先基于金属微粒荷电机理与受力模型，搭建了电极覆膜金属微粒运动观测平台，通过观测聚酰亚胺电极覆膜的微粒抑制效果，验证了电极覆膜对微粒抑制的有效性。具体结果表明，薄膜厚度与微粒抑制效果呈正相关特性，不同厚度的聚酰亚胺薄膜对金属微粒启举电压的增幅在49%～68%。其次建立了聚酰亚胺薄膜表面放电特性与寿命测试系统，测试不同厚度实验样品的放电统计参量，明确其放电特性，进而测试不同厚度聚酰亚胺薄膜的绝缘寿命 ...
郭浩 +5 more
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Dianci bileiqi, 1983 氧化锌电阻的工作寿命直接关系到无间隙避雷器的发展前途。本文分析了影响氧化锌电阻寿命的各种因素;介绍了寿命测试手段;评述了根据试验数据,利用阿累尼乌斯公式估算寿命的方法,认为它方便可行,能为无间隙避雷器的设计提供依据。
刘辅宜, 李永发, 蒋冠珍
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Gaoya dianqi, 2008 为了研究电容器的寿命与其工作可靠性的关系,笔者通过对脉冲电容器进行充放电老化试验,并对处于不同寿命阶段的电容器进行直流局部放电测试,得到最大放电量、平均放电量和平均放电重复率随寿命变化的曲线;借助电子显微镜观察处在不同老化寿命阶段电容器薄膜的表面微观形貌,分析充放电老化试验对其微观形貌的影响。最后结合电容器实际击穿情况,分析总结了导致脉冲电容器局部放电性能变化以及老化击穿的因素,指出电极边缘区域存在的局部绝缘缺陷是电容器失效的主要原因。
彭倩 +5 more
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