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残压比是衡量压敏电阻性能的一项重要指标,针对压敏电阻在冲击老化过程中残压比的变化问题,通过对压敏电阻样品进行8/20μs雷电流冲击老化试验,发现残压比在标称电流(In)冲击老化试验过程中呈现缓慢降低--缓慢增加--快速上升的变化趋势;根据双肖特基势垒理论及热老化理论分析,得出冲击过程中残压比的大小主要由晶界层状态所决定,残压比快速上升阶段是由于晶界层大量破坏的结论;提出了利用残压比变化率来衡量压敏电阻老化程度的方法,在实际应用中具有参考价值。
陈璞阳 +4 more
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为了将频域介电响应法(FDS)用于氧化锌压敏电阻老化状态的无损检测,在实验室环境下对氧化锌压敏电阻进行冲击老化试验,测量其介电频谱,并引入了带直流电导的多驰豫Cole-Cole模型拟合分析氧化锌压敏电阻的介电频谱。通过双驰豫Cole-Cole模型拟合常温下的介电谱发现,其中存在α驰豫过程和β驰豫过程,其对应的活化能约为0.68 eV和0.34 eV,对应着非本征晶间相缺陷驰豫和本征氧空位缺陷驰豫,α驰豫强度Δεα随冲击次数的增加而增强,而β驰豫过程不受冲击老化的影响;在拟合高温下(393 K ...
李春茂 +6 more
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转轮法是IEC 62217—2005标准中推荐的一种重要的复合绝缘子老化试验方法,但转轮法试验中运行复合绝缘子相关性能的变化规律尚待深入研究。基于此,文中通过对4支不同运行年限的线路棒形悬式复合绝缘子进行转轮法试验,监测试验过程中绝缘子表面放电和泄漏电流的变化规律,并定期取样进行了憎水性和傅里叶变换红外光谱(FTIR)测试分析。结果表明:绝缘子表面放电程度和泄漏电流幅值呈3个阶段式发展;各阶段绝缘子憎水性能劣化速度和Si-O-Si和Si-CH3集团峰面积减少速度存在差异;憎水性劣化速度和Si-O ...
贾伯岩, 刘杰, 王建国
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1999年投运500 kV高压直流套管户外侧出现严重的粉化龟裂现象,该套管外绝缘护套采用液体硅橡胶(LSR),并于2015年采用RTV进行外绝缘修复。通过憎水性、憎水迁移性、拉伸强度和撕裂强度测试分析了复合套管伞裙的宏观老化特征;借助扫描电子显微镜(SEM)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)、X射线光电子能谱(XPS)等手段分析了套管伞裙老化的微观特征;同时对修复后的套管伞裙性能进行评估。研究发现,液体硅橡胶伞裙老化由外表面向内部逐渐发展,具有明显的粉化层和未粉化层,老化后伞裙的憎水性、憎水迁移性 ...
韦晓星 +5 more
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随着复合绝缘子挂网运行时间的增加,复合绝缘子的老化日趋严重。为了方便快捷地检测复合绝缘子的老化程度,文中根据复合绝缘子伞裙护套的结构特点,设计了一种U型的便携式低场核磁共振传感器。测量样品为挂网运行不同时间的硅橡胶复合绝缘子,采用CPMG脉冲序列激励,得到样品的CPMG回波衰减数据。对CPMG回波衰减数据进行双指数函数拟合分析,得到硅橡胶伞裙材料的等效横向弛豫时间参数:t2,short和t2,long。实验结果表明,硅橡胶伞裙的t2,long参数与其老化程度有很好的对应关系 ...
黄健华 +8 more
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为将极化去极化电流法(PDC)应用于实际运行中变压器油纸绝缘的状态评估,笔者在实验室搭建了油纸绝缘PDC测试试验平台,测试了不同老化程度不同水分含量油浸纸样品的PDC特性曲线,并对测试结果进行对比分析。分析结果表明:在测试时间范围内,老化程度对油浸纸极化电流曲线的前段和中段以及去极化电流曲线的整个测试阶段产生影响;水分含量对油浸纸极化电流曲线的整个测试阶段以及去极化电流曲线中末段产生影响。提出以初始去极化电流idp1作为油浸纸聚合度的映射特征量,稳态极化电流id(电导电流)作为水分含量的映射特征量 ...
黎成林 +5 more
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氧化锌压敏电阻的压敏电压U1 m A和漏电流Ileak作为判断压敏电阻老化的检测参数,在及时性和有效性方面存在一定的不足,故需一种新的方法来保证检测的及时有效。通过对双肖特基势垒畸变理论和热破坏理论的分析,以及氧化锌压敏电阻的冲击试验,提出压敏电阻老化过程中存在电容量的变化,该变化可以作为判断老化的依据。试验证明在标称电流(In)冲击下,电容量呈现先小幅下降,后不断上升趋势,电容量和压敏电压的乘积在老化初期基本不变,老化到一定程度后急剧下降,在最大电流(Imax)冲击下 ...
陈璞阳 +4 more
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电涌保护器(SPD)对于电力系统抑制过电压有着重要作用。但SPD在使用过程中会发生老化现象,因此需要挑选指标对SPD老化程度进行监测。针对目前存在的两种不同类型的监测指标效果问题,通过Matlab仿真计算,对两种监测指标监测效果进行对比研究。结果表明:(1)基波电压作用下基波阻性电流和三次谐波阻性电流均随着SPD老化呈现指数上升趋势。(2)全波电压下产生的基波阻性电流和三次谐波阻性电流SPD老化程度和谐波电压初相位呈现正相关。(3 ...
陈登义, 周雪会, 李鹏
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O型密封圈广泛应用于GIS设备中。为了研究O型圈的老化及老化后的永久变形情况,文中设计了一种老化试验的方法,依据该方法进行老化试验并收集了不同温度下的试验结果。同时介绍了一种数据处理方法,依据该方法对试验结果进行处理,获得不同温度下的密封圈使用寿命预测值。根据文中试验研究结果可以得到:GIS设备气密封O型圈压缩永久变形率,与老化时间及老化温度均正相关,且老化过程遵循阿伦尼乌斯关系;在密封圈工作温度为70℃的情况下,其使用寿命为2.5年 ...
成勇 +7 more
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