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基于红外成像技术的零值绝缘子检测

open access: yesGaoya dianqi, 2018
提出使用绝缘子红外图像和支持向量机相结合的方法对不同污秽程度、空气湿度和空气温度下的零值绝缘子进行自动检测。首先对现场得到的绝缘子串红外图像进行预处理操作。在对绝缘子串红外图像进行预处理后,利用二维Otsu算法对红外图像进行分割,得到标记了绝缘子串的二值图像。利用边缘检测算法提取出绝缘子串的边缘图像。采用最小二乘法对绝缘子盘面边缘图像进行拟合,得到盘面椭圆方程,利用椭圆方程提取出单个绝缘子盘面。对单个绝缘子盘面进行温度特征提取,利用三因素方差分析方法对特征参数进行显著性检验,挑选受绝缘子污秽程度 ...
苑利, 赵锐, 谭孝元, 苟先太
doaj  

从能斯特定理导不出绝对零度下热容量的零极限

open access: yes, 2006
证明一些文献从能斯特定理终结式导出等容热容量和等压热容量在绝对零度下的零极限limT→0CV=0和limT→0Cp=0的有关推导不成立,并证明不可能从能斯特定理或其终结式导出这些结论.但如果把普朗克的绝对熵原理作为热力学第三定律的基本表述形式 ...
朱如曾
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利用泄漏电流分帧与小波技术识别覆冰绝缘子闪络故障

open access: yesGaoya dianqi, 2011
在人工气候室内,通过动态采集3片串XP-70覆冰绝缘子融冰过程中的泄漏电流,并在比较传统利用时频域分析泄漏电流存在不足的基础上,提出了对闪络全过程的泄漏电流采用分帧计算参考量:短时能量信号和过零率信号的极值,利用小波分解重构能量信号与过零率信号的包络曲线,从而从数值和曲线2个直观的角度快速地为覆冰绝缘子闪络故障的发生提供预警。
李毅   +6 more
doaj  

[Design and experiment of online monitoring system for long-term culture of embryo]. [PDF]

open access: yesSheng Wu Yi Xue Gong Cheng Xue Za Zhi, 2021
Zeng W   +5 more
europepmc   +1 more source

浅析玻璃绝缘子运行质量的规律性

open access: yesDianci bileiqi, 2000
概述了玻璃绝缘子在线路上运行过程中自动破碎 (简称自破 )的现象 ,并对其规律进行了综合分析。指出玻璃绝缘子的自破属早期暴露 ,且逐年下降。分析讨论了自然条件、荷载、严重污秽、气温变化等环境条件对产品自破率的影响。实践证明 ,玻璃绝缘子的寿命周期长 ;零值自破 ,便于检测 ...
孙泽慧, 顾洪连
doaj  

非掺半绝缘InP材料的电子辐照缺陷研究

open access: yes, 2010
本文针对磷化铁(FeP_2)气氛下高温退火非掺杂半绝缘磷化铟(IP SI-InP)材料,应用正电子寿命谱及热激电流谱学技术,研究了该材料在电子辐照前后的缺陷情况.研究发现,该材料经电子辐照后缺陷浓度在增大,且形成了复合体的缺陷结构,电子辐照后的正电子湮没平均寿命增加了18 ps,对应的热激电流谱(TSC)也出现了相应的缺陷峰.本文还对缺陷的特性 ...
张丽然   +8 more
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钢化玻璃绝缘子自爆问题分析

open access: yesGaoya dianqi, 2011
钢化玻璃绝缘子自爆严重影响了输电线路的安全运行。笔者根据近年来中国输电线路上发生的玻璃绝缘子集中自爆事例,分析了钢化玻璃绝缘子自爆规律及残锤特性、自爆影响因素和自爆机理,并在此基础上总结分析了降低钢化玻璃绝缘子自爆率的技术措施。结果表明:玻璃绝缘子自爆具有"早期暴露,逐年下降"的特点;玻璃绝缘子零值自爆后,由于它的残留强度高,不致造成掉串事故。自然环境、机械荷载、严重污秽、生产工艺等对钢化玻璃绝缘子自爆有影响。玻璃件中间张应力层发生偏移,不匀称分布是自爆的主要原因之一。采取二次热冷冲击试验、内水压试验 ...
王少华, 叶自强, 梅冰笑, 罗盛
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语音报数方式在劣化绝缘子测量仪上的应用

open access: yesGaoya dianqi, 1994
绝缘子是电力系统中数量最多的元件,也是线路故障的多发点,如何及时、准确、方便地检测出劣化绝缘子(也称零值绝缘子),一直是电力行业关注的问题.多年来,国内、外围绕带电检测的方式以及仪器设备做了大量的研究工作,陆续推出了十余种产品,见附表.附表中的各种劣化绝缘子测量仪虽各具特色,却又都存在着某些不足,如:精度差、重量大、操作不便、价格过高等原因而没能推广使用.目前,国内线检部门用得最多的仍是最原始的短路叉法.由此可见,研制新一代劣化绝缘子测量仪十分必要.
邹林, 张源斌
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半绝缘GaAs单晶化学配比的X射线双晶衍射Bond方法测量

open access: yes, 1998
利用X射线双晶衍射Bond方法,精确测量了各种条件下生长的半绝缘GaAs的晶格参数。建立了过量As在晶体中存在的间隙原子对模型,在理论上找到了影响半绝缘GaAs晶格参数的根本原因。并建立了半绝缘GaAs晶格参数与化学配比的关系,实现了化学配比的无损测量 ...
王玉田   +3 more
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