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针对ZnO压敏电阻多片并联时能量吸收的问题,基于全能量分析法,通过改变ZnO压敏电阻的并联片数及压敏电压的大小,对多片并联的ZnO压敏电阻进行8/20μs波形冲击试验,可以得出以下结论:多片压敏电阻并联时,各片压敏电阻的吸收能量随着冲击电压的上升而呈现线性增长的趋势,且压敏电阻相互间的压敏电压越接近,吸收能量越均匀,该现象可以由空穴诱导隧道击穿理论解释;能量吸收比随着冲击电压的增加呈现出线性递减的趋势,从能量释放角度证明了多片并联的压敏电阻可以有效保护后级设备,对实际应用具有一定的参考价值意义。
李祥超 +5 more
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本文采用化学共沉淀法制备了颗粒细、活性好的ZnO压敏电阻粉体,表征了粉体的性能.利用共沉淀粉体制备了α=50、压敏电压高、通流能力大的压敏电阻.与传统氧化物机械混合粉体制得的压敏电阻比较 ...
凌远兵 +3 more
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从SPD的应用环境、主要组成器件特性等方面,对SPD的失效模式、失效原因进行了分析。认为:氧化锌压敏电阻的失效模式可分为压敏电压降低,压敏电阻短路,压敏电阻限制电压升高,在大冲击电流下压敏电阻炸裂、开路等。以氧化锌压敏电阻压敏电压相对于初始值下降10%作为劣化失效的判据,其长期荷电寿命符合阿仑尼斯(Arrhenius)反应速率模型,即Lm=exp(R/T-C),与温度,荷电率成反比。低压系统中产生的暂时过电压、操作过电压 ...
杨大晟, 张小青, 许杨
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针对ZnO压敏电阻在小电流区下电流成分由阻性和容性电流组成的问题,通过对ZnO压敏电阻在小电流区的电路特征的分析。采用取样电阻和ZnO压敏电阻串联,在其两端施加不同的工频电压,测量ZnO压敏电阻的两端电压和电流,分析小电流区电压电流的相位变化。利用理论和实验相结合的方法发现,得出在小电流区中随着电压不断升高,电流不断加大,到达突变点之后电压基本保持不变;随着ZnO压敏电阻压敏电压的增大,容性电流和阻性电流的相位角在减小。这在电涌保护的实际应用中有一定的参考价值。
李祥超, 万治成
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通过沿径向制作点电极,并测试压敏电压径向分布,表明普通试样的压敏电压沿径向呈下降分布,它与晶粒尺寸沿径向分布对应。通过调整压成方式和侧面无机高阻层配方,改变压敏电压径向分布,能够提高沿面问络电压和电流,其中缓慢压成以及施以反应型高阻层的试样的闪络电压和电流大。闪络电压和电流与压敏电压径向分布特征值V9/V0呈线性上升关系。
李盛涛, 李博, 刘辅宜
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对氧化锌压敏电阻器的限制电压和工频过电压耐受时间的试验测试,结果表明,相同型号的氧化锌压敏电阻器,其限制电压越高,则耐受工频过电压的时间越长。所以在限制电压满足要求的情况下,适当提高限制电压,可提高氧化锌压敏电阻器的工频耐受性能。同时为工频线路中合理选用氧化锌压敏电阻器提供一定的参考。
何欣, 王建文, 韩伟
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针对目前主要通过压敏电压U1mA和漏电流I两个参数来检测氧化锌压敏电阻的劣化程度,然而因为U1mA和I存在"拐点效应",无法及时有效地判断氧化锌压敏电阻的劣化程度。因此研究一种能反映氧化锌压敏电阻劣化程度的方法尤为重要。根据氧化锌压敏电阻的热稳定性和老化机理,提出氧化锌压敏电阻劣化过程中会伴随着温度的变化。通过对氧化锌压敏电阻进行热稳定劣化试验,试验分析发现:氧化锌压敏电阻的变温区域为阀片内部,随着热阻的变化,氧化锌压敏电阻的温度也发生变化。得出变温率可以作为一个考量氧化锌压敏电阻劣化程度的量,同时 ...
张过有
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针对氧化锌压敏电阻在小电流区下电流成分不唯一的问题,通过分析氧化锌压敏阻在不同区域的电气特性,尤其是小电流区。采用普通电阻和压敏电阻串联,利用热稳定仪对其进行试验,测量通过氧化锌压敏电阻的两端电压和电流,分析小电流区下电压电流的特性及相位变化。利用理论和实践相结合的方法,得出在小电流区中随着电流不断加大,电压不断升高,到达突变点之后电压基本保持不变。在到达突变点之后,电压基本保持不变,此时电路中的电流从阻性电流和容性电流矢量合成变成了完全的阻性电流,氧化锌压敏电阻成完全的电阻状态 ...
赵冲, 冀敏, 王宁, 李林
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采用氨浸法制备ZnO纳米复合压敏瓷料的工艺手段,研制出压敏场强大于330V/m m,漏电流小于1μA,非线性系数大于58的压敏电阻器,电性能的一致性要优于普通压敏电阻器的5~10倍。用扫描电镜和能谱对瓷体显微结构及面扫成分进行了分析,讨论了ZnO压敏电阻材料结构和电性能的关系。研究表明,加入纳米复合粉制备压敏电阻是降低大规模生产中的成本,提高ZnO压敏电阻电性能及其一致性的有效途径。
李红耘 +5 more
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氧化锌压敏电阻的压敏电压U1 m A和漏电流Ileak作为判断压敏电阻老化的检测参数,在及时性和有效性方面存在一定的不足,故需一种新的方法来保证检测的及时有效。通过对双肖特基势垒畸变理论和热破坏理论的分析,以及氧化锌压敏电阻的冲击试验,提出压敏电阻老化过程中存在电容量的变化,该变化可以作为判断老化的依据。试验证明在标称电流(In)冲击下,电容量呈现先小幅下降,后不断上升趋势,电容量和压敏电压的乘积在老化初期基本不变,老化到一定程度后急剧下降,在最大电流(Imax)冲击下 ...
陈璞阳 +4 more
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