Results 51 to 60 of about 3,521 (110)
Dianci bileiqi, 2018 具有良好保护性能的氧化锌避雷器在电力系统中被广泛使用,因此研究的重要问题是氧化锌避雷器中电阻片的老化。为了了解氧化锌避雷器电阻片在不同电流与温度条件下的电流和电容的关系,使用MATLAB对氧化锌电阻片进行泄漏电流的仿真分析。仿真分析的结果表明,氧化锌电阻片的V-I曲线和仿真分析所得出不同温度下氧化锌的泄漏电流波形结果一致。
李惠庸, 柴宜
doaj
Dianci bileiqi, 2019 论述了直流氧化锌压敏电阻片烧结过程中降温速率对其电气性能的影响,从直流电阻片的老化、伏安特性、温度系数、荷电率、吸潮性等方面对直流电阻片的电气性能进行了探究。实验结果表明:从高温点降到970℃,平均降温速率为27℃/h,从970℃降到870℃,平均降温速率为40℃/h,从870℃降到840℃,平均降温速率15℃/h,直流电阻片的各项电气性能参数较优。
田冰, 朱成洋, 郭向洋
doaj
Dianci bileiqi, 2019 基于换流站直流极线近区发生对地短路,直流滤波器的F1避雷器出现的冲击电流特征,分析了多次大电流冲击对F1避雷器用电阻片的性能影响。以平高东芝（廊坊）避雷器有限公司用于F1避雷器的两种电阻片为对象,研究了多次大电流冲击对电阻片老化特性、2 ms能量吸收能力以及保护特性的影响。验证了电阻片性能满足扎鲁特—青州±800 kV特高压直流工程需求。结果表明:多次大电流冲击对电阻片的能量吸收能力、老化特性以及保护性能没有明显影响。
姚玉锁 +6 more
doaj
Dianci bileiqi, 2005 通过对珠海电厂海斗乙线避雷器解体检查及对电阻片进行直流1mA电压U1mA和75%U1mA电压下直流泄漏电流测量试验,发现避雷器缺陷的主要原因是避雷器密封不良潮气进入,导致电阻片直流1mA参考电压降低和泄漏电压超标;额定电压选择偏低（192kV）导致电阻片荷电率偏高;避雷器外表面积污严重不均匀时导致电压分布不均匀等,从而加速了电阻片的老化以及瓷套内表面受潮。
钟定珠, 李谦, 樊灵孟
doaj
Dianci bileiqi避雷器用ZnO电阻片在运行中难免出现老化，这将导致电阻片电稳定性下降，影响电力系统稳定运行周期。对于ZnO电阻片老化机理以及如何提高ZnO电阻片长期运行的电稳定性成为研究热点。本次研究通过分析显微结构、物相组成、介电频谱以及电气性能探讨渗Bi热处理工艺对ZnO电阻片电稳定性的影响，构建微观本征点缺陷结构与宏观电稳定性之间的关联关系。实验结果表明渗Bi热处理工艺可以使Bi2O3相以及尖晶石相发生转变，改变氧离子的传导率，进而造成氧空位Vo•在耗尽层中的变化，这也使得渗Bi热处理电阻片晶界势垒高度ΦB达到0.
王鑫 +6 more
doaj +2 more sources
Dianci bileiqi, 1996 对氧化锌电阻片所用原料的超细粉碎与传统工艺粉碎进行了比较，分析了原料的粒度对氧化锌电阻片电性能的作用，指出了超细粉碎在高性能氧化锌电阻片研制中的应用前景．
王兰义 +4 more
doaj
Dianci bileiqi, 2018 金属氧化物避雷器作为过电压保护设备,对电力系统绝缘配合起着关键作用。金属氧化物避雷器的能量吸收能力是避雷器的重要特征性能,决定着其保护特性和自身的运行安全,已引起使用部门和制造者的普遍关注。避雷器的能量吸收能力主要取决于电阻片的能量吸收能力,在运行和试验过程中,电阻片会有哪些破坏形式,哪些因素会影响到电阻片的能量吸收能力,本文对此进行初步试验探讨。试验结果显示,电阻片的主要破坏形式有贯穿、开裂、闪络,影响电阻片能量吸收能力的主要因素有电阻片的起始温度、热容量、能量注入的形式。
艾三 +5 more
doaj
[Development and electrophysiological validation of a temporal interference transcranial magnetic stimulation system for mice]. [PDF]
Sheng Wu Yi Xue Gong Cheng Xue Za ZhiCui C, Wang T, Zhang Y, Zheng W, Xu G.
europepmc +1 more source
电极留边距离对电流冲击下ZnO电阻片通流性能和故障模式的影响
Dianci bileiqi在2 ms方波冲击和4/10 μs大电流冲击下测试了具有不同电极留边距离的ZnO电阻片。结果表明，电极边缘和ZnO电阻片边缘留有一定余量可使冲击下的通流性能表现更稳定、减少分散性，但过多的留边距离则会使承受冲击电流的有限面积减少，留有0.5 mm左右的电极留边距离比较合适。在电流冲击测试过程中，一些ZnO电阻片样品出现故障，包括穿孔、破裂和侧闪。观察发现冲击试验后ZnO电阻片局部微观结构的形态和组成出现变化，被认为是ZnO电阻片劣化或故障的根本原因。
付志瑶, 王博闻, 胡建平, 方针
doaj
[Research progress on flexible wearable sensors for health monitoring]. [PDF]
Sheng Wu Yi Xue Gong Cheng Xue Za ZhiChen X, Xu G.
europepmc +1 more source